
طیف سنجی فلورسانس اشعه ایکس: اصل، ابزار دقیق و کاربرد طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF) یک ابزار تحلیلی است که از فناوری اشعه ایکس برای انجام آنالیزهای شیمیایی معمول و کم تهاجمی مواد مختلف زمینشناسی مانند سنگها، مواد معدنی، رسوبات و سیالات استفاده میکند. اصول عملیاتی این سیستم بر اساس طیفسنجی پراکنده طول موج است که شباهتهایی با تکنیک میکروپروب الکترونی (EPMA) دارد. با این وجود، ابزارهای فلورسانس اشعه ایکس (XRF) عموماً قادر به انجام تجزیه و تحلیل در اندازههای نقطه کوچکی نیستند که معمولاً در...
ادامه مطلب